学术讲座：日立聚焦离子束在材料中应用及与TEM联用技术
主讲人：张希文，日立科学仪器（北京）有限公司销售支援部经理
邀请人：谢宇俊
时间：2023年10月18日 9:30 - 11:30
地点：上海交通大学包玉刚图书馆东翼200报告厅
讲座摘要：
科研中对FIB制作TEM样品的需求越来越大，样品制备成功率更高，定位更准确，可以获得更薄、更均匀的样品；然而，在使用FIB制作TEM样品时，也会遇到一系列问题，如离子束损伤、样品弯曲等。
1，利用日立FIB “三束”系统来减少样品上的损伤层
2，日立FIB自动化样品加工技术
3，应对空气敏感型样品的解决方案
4，与HF5000 TEM电镜联用的技术
Ga+SEM+Ar三束结构
主讲人简介：
张希文于2012年8月加入日立高新技术（上海）国际贸易有限公司北京分公司，担任日立电子显微镜售后服务技术支持工作，并于同年赴日本工厂进行为期半年的生产技术培训，经过培训详细学习了日立电子显微镜的设计理念，生产流程，技术特点等；2013年回国后继续担任日立电镜售后服务技术支持工作，并同时担任日立电镜产品售前技术支持工作。
